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20120001_1108

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

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20120001_1108

Microscope à force atomique (AFM) multimode, Nanoscope V, utilisé pour la caractérisation de surface

Microscope à force atomique (AFM) multimode, Nanoscope V, utilisé pour la caractérisation de surfaces de polymères en milieu liquide (ADN, multicouches de polyélectrolytes...).

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